X射線粉末衍射分析XRD的原理是利用 X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來測(cè)試物相結(jié)構(gòu)。根據(jù)試樣測(cè)試結(jié)果中各衍射線的位置、數(shù)目和相對(duì)強(qiáng)度等可以確定被測(cè)樣品中包含的結(jié)品物質(zhì)以及它們的相對(duì)含量。對(duì)改性前后氫氧化鎂粉體進(jìn)行 XRD 分析，通過與標(biāo)準(zhǔn)的 PDF 卡片對(duì)比和分析，可以確認(rèn)表面改性后的 MH 粉體結(jié)構(gòu)是否發(fā)生了變化，由此來判斷表面改性劑的使用是否會(huì)對(duì) MH 的原有結(jié)構(gòu)造成破壞，并借此推斷改性的反應(yīng)類型和機(jī)理。與XRD結(jié)構(gòu)分析相比，無機(jī)粉體因?yàn)楸砻嬗袡C(jī)化程度的不同，在受熱分解的過程中，會(huì)表現(xiàn)出不同的熱分解行為，因此，通過研光改性前店 NH 粉體分解過程所對(duì)應(yīng)的TGA、DSC等曲線可以分析出 MH 粉體表面有機(jī)化的一些相關(guān)情況，研究表面改性劑對(duì)MH粉體的表面改性效果的影響。